基于半马尔科夫过程的逻辑门可靠性分析

doi:10.12005/orms.2021.0146

运筹与管理 ›› 2021, Vol. 30 ›› Issue (5): 66-72.DOI: 10.12005/orms.2021.0146

基于半马尔科夫过程的逻辑门可靠性分析

兑红炎¹, 郑小倩¹, 陈立伟², 杨楠¹

1.郑州大学管理工程学院,河南郑州 450001;
2.郑州大学电气工程学院,河南郑州 450001

收稿日期:2019-09-30 出版日期:2021-05-25
作者简介:兑红炎(1982-),男,河南人,副教授,博士,研究方向:系统可靠性和重要度;郑小倩(1995-),女,河南人,硕士,研究方向:系统可靠性;陈立伟(1983-),男,河南人,副教授,博士,研究方向:系统可靠性;杨楠(1995-),女,河南人,硕士,研究方向:系统可靠性。
基金资助:
国家自然科学基金资助项目(U1904211,72071182);教育部人文社科规划基金资助项目(20YJA630012)

Reliability Analysis of Logic Gates Based on Semi-Markov Process

DUI Hong-yan¹, ZHENG Xiao-qian¹, CHEN Li-wei², YANG Nan¹

1. School of Management Engineering, Zhengzhou University, Zhengzhou, Henan 450001, China;
2. School of Electrical Engineering, Zhengzhou University, Zhengzhou, Henan 450001, China

Received:2019-09-30 Online:2021-05-25

摘要/Abstract

摘要： 动态故障树分析方法是在静态故障树的基础上拓展而来的自上而下的图形化演绎技术,可以很好地对具有复杂失效行为和交互作用的系统进行建模,进而分析系统的可靠性。本文从动态故障树逻辑门的可靠性建模与分析入手,结合半马尔科夫过程原理,将动态逻辑门转化为半马尔科夫链。其次给出在半马尔科夫链中动态逻辑门输出事件的发生概率和系统可靠性的计算公式。提出各种逻辑门到半马尔科夫链的通用转化模型,通过更改通用模型中的相关参数,将逻辑门转化为半马尔科夫链。最后,基于半马尔科夫过程求解动态逻辑门输出事件的发生概率,以动态优先与门、顺序相关门和备件门为例,并给出系统可靠性的计算公式。

关键词: 可靠性, 动态故障树, 半马尔科夫过程, 逻辑门

Abstract: Dynamic fault tree is a top-down deductive technique, which extends from traditional static fault tree analysis. It is usually used to model systems with complex failure behaviors and interactions in the system reliability. For the reliability modeling and analysis of logic gates of the dynamic fault tree, this paper combines the semi-Markov process principle to transform dynamic logic gates into semi-Markov chains. Firstly, a universal semi-Markov chain is proposed for many static and dynamic logic gates. Then a general equation of all gates is given to solve dynamic fault tree with semi-Markov model. Finally, it proposes a solution thought for typical logic gates to simplify the computational complexity based on semi-Markov model.

Key words: reliability, dynamic fault tree, semi-Markov process, logic gates

中图分类号:

N945

兑红炎, 郑小倩, 陈立伟, 杨楠. 基于半马尔科夫过程的逻辑门可靠性分析[J]. 运筹与管理, 2021, 30(5): 66-72.

DUI Hong-yan, ZHENG Xiao-qian, CHEN Li-wei, YANG Nan. Reliability Analysis of Logic Gates Based on Semi-Markov Process[J]. Operations Research and Management Science, 2021, 30(5): 66-72.

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Reliability Analysis of Logic Gates Based on Semi-Markov Process

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